У період з 20 по 22 жовтня 2020 р. відбулось 55-е засідання Міжнародного комітету законодавчої метрології (комітет CIML). Вперше в історії Міжнародної організації законодавчої метрології засідання комітету CIML проводилось в онлайн режимі на базі платформи ZOOM.
Засідання CIML проводилось під головуванням Президента CIML Др. Романа Шварца (Dr. Roman Schwarz).
Інформація
про участь у 11-й Міжнародній конференції з електротехніки та енергетики (ЕРЕ 2020)
Директор інституту № 3, проф., д.т.н. Олег Величко 22–23 жовтня 2020 р. взяв участь у он-лайн 11-й Міжнародній конференції з електротехніки та енергетики (ЕРЕ 2020), яка була організована і проведена факультетом електротехніки Технічного університету Ясс, Румунія.
Участь у 14-му засідання ТК 1.3 “Електрика і магнетизм” КООМЕТ
Директор інституту № 3, проф., д.т.н. Олег Величко 20–21 жовтня 2020 р. взяв участь у он-лайн 14-му засіданні TC 1.3 “Електрика і магнетизм” КООМЕТ як його член від України. Участь у цьому засіданні взяли члени цього комітету з Білорусі, Молдови, Грузії, Азербайджану, Німеччини, Російської Федерації, Казахстану, Узбекистану, Боснії та Герцеговини і України та запрошені координатори звірень, технічні експерти і представники секретаріату КООМЕТ (всього 25-ть учасників з 10-ти країн).
На запрошення голови технічного комітету з електрики, магнетизму, часу та частоти (TC EMFT) регіональної метрологічної організації (РМО) GULFMET Дж. Бартолом’ю директор інституту № 3, проф., д.т.н. Олег Величко взяв участь у 13-му засіданні TC EMFT GULFMET. Участь у цьому засіданні взяли члени цього комітету з Об’єднаних Арабських Еміратів, Саудівської Аравії, Кувейту, Катару, Омана, Бахрейна, Боснії та Герцеговини, Туреччини, Гонг Конгу, Республіки Корея і запрошені координатори звірень GULFMET.
У базі даних Міжнародного бюро мір та ваг (KCDB BIPM), де розміщують інформацію про визнані калібрувальні та вимірювальні можливості метрологічних інститутів (СМС), опубліковано нові рядки СМС ДП "УКРМЕТРТЕСТСТАНДАРТ" у галузі фізико-хімічних вимірювань, включно з виробництвом референтних матеріалів (стандартних зразків):
